Ⅲ-Ⅴ族GaSb半导体材料热电性能的研究

日期:2019-11-27     浏览:1    下载:0     体积:2M     评论:0    


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目前,Ⅲ-Ⅴ族闪锌矿型GaSb半导体材料的能带参数和性能已经有了非常详尽和全面的研究。由于具有优良的物理、光学、电学和热学性能而被广泛应用到电子、机械等领域,它在半导体行业中作用也日益突出,成为热电材料中深具潜力的一员。更重要的是,作为优异的中温区热电材料,GaSb具有热稳定性高、机械性能强和使用寿命长等优点,使其成为新一代汽车尾气处理热电转换器件材料的有力竞争者。
  本课题研究了p型Ⅲ-Ⅴ族半导体材料GaSb的热电性能。基于Zn-和Cd-掺杂的p型半导体的实验结果,我们应用自主设计的单带非抛物线模型对GaSb体系的传输性能进行了模拟,并通过它与A2B3(A=Ga,In,Sb;B=Te,Se)等阴阳离子配比为3:2的化合物形成固溶体,系统地研究了空位对电子和声子输运特性的影响。主要研究内容如下所示:
  (1)首先,通过熔融-热压烧结的制备方法制备了Zn、Cd掺杂的p型GaSb半导体材料,并测试了其电导性能及热导性能。研究发现通过适当的掺杂调控,Zn、Cd掺杂的p型GaSb表现出了优异的电学性能。然而,GaSb具有Ⅲ-Ⅴ族半导体普遍存在的高热导率,致使p型GaSb无法实现高热电性能优值,即高zT。
  (2)根据已获得的Zn、Cd掺杂的p型GaSb半导体热电性能数据,再结合两者相应的霍尔数据,我们假设并模拟了GaSb体系的单带非抛物线模型(载流子浓度在1018~1020cm-3),来对p型GaSb的电学性能进行理论研究。结果显示,模拟数据和实验数据吻合度很高;同时,对应物理参数的变化规律也反映出GaSb的能带结构符合假设的单带非抛物线模型。因此,我们认为该模型可以很好的描绘p型掺杂GaSb半导体材料的电学性能。
  (3)随后,通过熔融-热压烧结的制备方法获得了可重复制备(GaSb)3(1-x)(Sb2Te3)x(x=0.025,0.05,0.1,0.15,0.2,0.25)和(GaSb)3(1-y)(Ga2Te3)y(y=0.0025,0.05,0.1,0.15,0.2)两个体系的半导体材料,Sb2Te3和Ga2Te3组分的引入,为GaSb带来了大量的空位,提高了声子的散射程度,大幅降低了体系的晶格热导率(x=0.25,T=850K时由5W/m-K下降到~1W/m-K);然而空位的引入也影响了电子的输运性能,使得GaSb良好的电性能急剧下降,难以通过电性能测试仪器获得精确的电性能数据(电导率,Seebeck系数,霍尔系数等)。

作 者:
沈红伟 
学科专业:
材料工程 
授予学位:
硕士 
学位授予单位:
东华大学 
导师姓名:
江莞柏胜强 
学位年度:
2016 
研究方向:
 
语 种:
chi 
基金项目:
 
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